ZEISS beschleunigt die R?ntgenmikroskopie im Nanobereich um das Zehnfache

ZEISS führt ein neues R?ntgenmikroskop (XRM) ein, das die dreidimensionale Bildaufnahme im Nanobereich um das Zehnfache beschleunigt. Dank einer Reihe technischer Innovationen für sch?rferen Kontrast und schnellere Bildaufnahme revolutioniert das neue ZEISS Xradia 810 Ultra die R?ntgenmikroskopie in wissenschaftlichen Laboren und Industrieanwendungen. Das Mikroskopsystem wurde auf der Microscopy & Microanalysis in Indianapolis am 5. August zum ersten Mal vorgeführt und ist ab sofort verfügbar.Xradia 810 Ultra arbeitet mit einer niedrigen R?ntgenenergie von 5,4 keV, die für bessere Kontraste und Bildqualit?t bei vielen Materialien sorgt. Dank dieser niedrigenergetischen, st?rker absorbierten R?ntgenstrahlen werden hochaufgel?ste Tomographien in deutlich kürzerer Zeit fertiggestellt. Der ZEISS Gesch?ftsbereich X-ray Microscopy stimmte Xradia 810 Ultra auf diese neue Energiequelle unter Verwendung innovativer Optiken ab, um so das Potenzial der Xradia Ultra Familie zu erweitern. Diese besteht aus den einzigen kommerziellen R?ntgenmikroskopen, die im Labor zerst?rungsfrei eine Aufl?sungen von bis zu 50 Nanometern erzielen.Durch die wesentlich beschleunigte dreidimensionale Bildaufnahme verbessert Xradia 810 Ultra die Wirtschaftlichkeit der R?ntgenmikroskopie in Wissenschaft und Industrie erheblich:In Machbarkeitsstudien zur Nutzung von Erd?l und Erdgas k?nnen Gesteinsphysiker so in wenigen Stunden Messungen durchführen, um kritische Parameter wie Porosit?t und Tortuosit?t zu charakterisieren. Dank des ausgezeichneten Kontrasts, den Xradia 810 Ultra bietet, wird die Bildgebung sowohl für Karbonatgestein als auch Schiefer optimiert.4D- und in-situ-Studien, bei denen interne Strukturen der Probe wiederholt und unter verschiedenen Bedingungen über die Zeit hinweg abgebildet werden, k?nnen jetzt mit geringerem Aufwand durchgeführt werden. Dadurch werden solche Experimente für ein breites Anwendungsfeld zug?nglich. Gerade im Vergleich zur bisherig etablierten sequentiellen Probenpr?peration im Dünnschnittverfahren ist das zerst?rungsfreie R?ntgenmikroskopieverfahren bei 3D-Anwendungen deutlich schneller.Durch den h?heren Absorptionskontrast bei 5,4 keV und den Zernike-Phasenkontrast eignet sich die hochaufl?sende R?ntgenmikroskopie ebenfalls für verschiedene dreidimensionale Biomaterialien wie Polymere und Gewebeproben.ZEISS Xradia 810 Ultra beschleunigt die R?ntgenmikroskopie im Nanobereich um das Zehnfache.In zentralen Mikroskopielaboren, in denen Forscher R?ntgenmikroskope verwenden, sind die Kosten pro Probe für angemeldete Nutzer geringer, so dass die einzigartige Technologie einer gr??eren Gruppe von Forschern zug?nglich ist."Für uns als Pioniere der R?ntgenmikroskopie im Nanobereich sowohl für Synchrotron- als auch Laborsysteme war der n?chste logische Schritt die Optimierung dieser Technologie für anspruchsvolle Materialien, auf die unsere Kunden sich konzentrieren", sagt Dr. Kevin Fahey, leitender Materialwissenschaftler bei Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. "Mit der Untersuchung von gering streuenden Materialien, die in der Forschung weltweit gro?e Beachtung finden, erm?glicht Xradia 810 Ultra eine kostengünstigere und effizientere Abbildung unterschiedlicher Polymere, Oxide, Verbundwerkstoffe, Brennstoff-zellen und anderer viel versprechender Materialien."Neben der unerreichten Aufl?sung im Nanobereich unterstützt Xradia 810 Ultra sowohl Absorptions- als auch Zernike-Phasenkontrast und erm?glicht damit die optischen Qualit?ten eines Synchrotronsystems im Labor. Mit diesem Mikroskop unterstreicht ZEISS seine führende Rolle im Bereich der 3D-Bildgebung über verschiedenste Aufl?sungsklassen hinweg. 10.08.2013, Carl Zeiss MicroImaging GmbH